薄膜測厚儀要考慮的測量參數都有哪些？
更新時間：2021-08-25 點擊次數：2079
薄膜測厚儀是一種薄膜厚度測量儀器，已經在很多行業得到應用，方便了很多人的測量工作。那么你對它有什么了解呢？
1、測量范圍廣
膜厚儀的測量范圍很廣，可以從薄膜到厚膜測量厚度，不會因測量材料的變化而給厚度測量操作帶來任何不便。
2、先進的厚度分析方法
膜厚測量儀的厚度分析方法采用絕對反射光譜分析方法，與其他類型的測厚儀相比，在測量精度和測量速度方面具有顯著優勢。
3、操作簡單
膜厚儀采用人性化設計，使儀器膜厚的測量更加容易，無需復雜的測量操作，相關測量人員只需進行簡單的操作設備操作培訓。
4、外觀新穎
測量儀的外觀也進行了全新的設計。整體外觀更加*新穎。相較于傳統測厚儀呆板的外形，更吸引了人們的眼球。
5、實現光學常數分析功能
膜厚儀采用非光學數據分析方法，實現了光學常數的分析，不僅加快了測厚速度時間，而且還進一步提高了其精度，為人們提供了更準確的膜厚測量數據。
薄膜測厚儀要考慮的測量參數都有哪些？
1、測量波長
薄膜測厚儀的測量波長在450nm-780nm之間，更寬的波長測量范圍可以實現更快的光學測厚過程。
2、測量精度
本測量儀的測量精度在0.2nm誤差范圍內。
3、鹵素燈
薄膜測厚儀的光源采用鹵素燈，不僅提供了充足的光源照度，而且減少了對眼睛的傷害，它具有非常人性化的設計。
當前位置：
地址：安徽省合肥市經開區尚澤大都會A座2214
郵箱：1053185136@qq.com
傳真：