微納結(jié)構(gòu)三維形貌測(cè)量?jī)x系列微納結(jié)構(gòu)三維形貌檢測(cè)儀，基于白光干涉掃描原理，以光波長(zhǎng)作為測(cè)量基準(zhǔn)，利用納米級(jí)高精度掃描系統(tǒng)結(jié)合具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高精度解析算法，實(shí)現(xiàn)連續(xù)或臺(tái)階突變微納結(jié)構(gòu)表面三維形貌重構(gòu)，由此獲得待測(cè)物體三維形貌、表面紋理、微觀尺寸等各類外觀參數(shù)測(cè)量結(jié)果。